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摘要：本发明涉及一种基于截面信息的药片磕边检测方法和系统，通过获取药片的二维图像以及二维图像各区域的深度信息；提取二维图像中药片边缘的待检测环形区域，并将待检测环形区域的深度信息展开为一维截面信息；基于一维截面信息对药片进行缺陷检测。本申请提取药片边缘的待检测环形区域，然后将待检测环形区域的深度信息展开为一维截面信息，可快速检测边沿缺陷所在位置、缺陷大小以及深度，本申请可以有效对位于表面到侧面过渡区难以检测的缺陷进行检测，提高了片剂生产流程的产品质量。
主权项：1.一种基于截面信息的药片磕边检测方法，其特征在于，包括步骤：获取药片的二维图像以及二维图像各区域的深度信息；基于所述深度信息提取所述二维图像中药片边缘的待检测环形区域，并将所述待检测环形区域的深度信息展开为一维截面信息；基于所述一维截面信息对药片进行缺陷检测。
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百度查询： 平方和(北京)科技有限公司 一种基于截面信息的药片磕边检测方法和系统
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