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申请/专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
摘要：本发明属于激光相位测量领域，尤其着重于一种采用光谱干涉技术进行宽带激光脉冲束间载波包络相位差ΔCEP和时间延迟的测量方法。该方法通过引入二阶色散，使发生光谱干涉的两个脉冲的频谱相位差出现抛物线特征，通过建立抛物线中心对称轴与光谱中心频率之间的关系，进而确定脉冲间的时间延迟和ΔCEP的信息。通过精确补偿三阶色散引起的误差，实现了小于标准差小于40毫弧度的测量精度。此方法以其较高的测量精准度、较低的成本和能够有效抵抗现实环境干扰的能力，提升了测量的准确性与稳定性，展现出广泛的应用潜力。
主权项：1.一种测量载波包络相位差和时间延迟的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：S1.采用两束具有相同中心频率和频谱宽度、不同的二阶色散量和时间延迟宽带的激光脉冲，对其中一束宽带激光脉冲引入额外的二阶色散并使两束宽带激光脉冲发生光谱干涉；S2.对采集到的光谱干涉信号进行噪声处理；S3.计算两束宽带激光脉冲合束的光谱干涉信号的频谱相位差数据；S4.确定所述频谱相位差数据中类抛物线顶点特征和采样点位置；S5.采用最小二乘法对采样点进行二次函数拟合得到抛物线中心轴，进而根据抛物线二次项系数的大小和采样点位置对三阶色散引起的中心轴拟合偏差进行修正；S6.通过中心轴与光源光谱中心频率之间的关系计算得到两束脉冲之间的时间延迟，调整两束宽带激光脉冲之间的时间延迟，使时间延迟为零；S7.从频谱相位差数据中读取光谱中心频率的相位值，并结合二次函数拟合的二次项系数正负得到载波包络相位差。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院上海光学精密机械研究所 一种测量载波包络相位差和时间延迟的方法
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