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申请/专利权人：北京理工大学
摘要：本发明公开的一种利用单帧干涉图的相位提取方法，属于光电测量技术领域。本发明实现方法为：通过采集系统采集一张干涉图，通过极值法得到所需要的cosφ，然后通过算法计算得出sinφ，在通过利用反正切方法获取包裹相位Φ，使用二维快速解包裹算法进行解包裹，从而恢复出被测面形的真实相位，即基于单帧干涉图的相位提取。本发明仅需要一帧干涉图，用极值法处理后在由算法处理后直接进行正切反正切的相位提取方法，进而恢复面形。本发明不需要移相器、分光元件等高精度元器件，并且无需对干涉图进行归一化、去噪等预处理操作。本发明具有光路简单、测量范围大、精度高、效率高的优点。
主权项：1.利用单帧干涉图的相位提取方法，其特征在于：包括如下步骤，步骤一、采集第一张干涉图的光强；第一帧干涉图的光强I1x,y表达式为： 式中，x为光强矩阵横坐标，y为光强矩阵纵坐标，为相位，A代表背景光强，B代表调制光强；步骤二、通过极值法，根据步骤一得到的I1x,y，求取相位当为1时MAXI1x,y＝A+B2当为-1时MINI1x,y＝A-B3由式23求出A,B的数值A＝[MAXI1x,y+MINI1x,y]24B＝[MAXI1x,y-MINI1x,y]25由式145得到的数值 步骤三、与的关系为： 则 当的函数值处于递减阶段时，的数值总是大于等于0；当的函数值处于递增阶段时，的数值总是小于等于0，由此规律得到步骤四、根据步骤二得到的和步骤三得到的得到包裹相位Φ： 使用二维快速解包裹算法进行解包裹，从而恢复出被测面形的真实相位，即利用单帧干涉图进行相位提取。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京理工大学 利用单帧干涉图的相位提取方法
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