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碳化硅晶片腐蚀篮具 

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申请/专利权人:通威微电子有限公司

摘要:本实用新型提供了一种碳化硅晶片腐蚀篮具,涉及晶片腐蚀技术领域,该碳化硅晶片腐蚀篮具包括篮具支架和多个篮具隔板,多个篮具隔板层叠设置在篮具支架的底部,相邻两个篮具隔板之间形成用于装配晶片的夹持空间,每个篮具隔板的顶侧表面设置有多个第一抵持凸点,多个第一抵持凸点用于抵持在晶片的底侧表面。相较于现有技术,本实用新型提供了一种碳化硅晶片腐蚀篮具,采用凸点接触,能够大幅减小与晶片的接触面积,使得晶片腐蚀均匀且稳定性强,并且采用多个篮具隔板,每相邻两个篮具隔板均可以夹持晶片,可以根据需求调整篮具隔板数量,进而调整晶片数量,适用性更好。

主权项:1.一种碳化硅晶片腐蚀篮具100,其特征在于,包括篮具支架110和多个篮具隔板130,多个所述篮具隔板130层叠设置在所述篮具支架110的底部,相邻两个所述篮具隔板130之间形成用于装配晶片的夹持空间,每个所述篮具隔板130的顶侧表面设置有多个第一抵持凸点150,多个所述第一抵持凸点150用于抵持在所述晶片的底侧表面。

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权利要求:

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