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申请/专利权人:合肥六角形半导体有限公司
摘要:本实用新型提供一种Tray盘检测治具,用于对芯片外观检测,包括Tray盘,所述Tray盘中间为检测放置台,两侧为斜面检测台;所述斜面检测台向外倾斜,其放置斜面和检测放置台之间夹角为45°;所述斜面检测台和检测放置台连接处预留让位槽,所述让位槽形状为弧形,且匹配所述芯片引脚。本新型的Tray盘检测治具,解决了现有检测设备产品平放于显微设备下,产品侧面的外观异常不容易被发现的问题,通过设置斜面检测台和让位槽,可以斜放产品,便于确认产品侧面外观状况,可以清晰看到产品侧面是否异常,并且不会造成产品引脚变形。
主权项:1.一种Tray盘检测治具,用于对芯片100外观检测,包括Tray盘1,其特征在于,所述Tray盘1中间为检测放置台10,两侧为斜面检测台2;所述斜面检测台2向外倾斜,其放置斜面22和检测放置台10之间夹角为45°;所述斜面检测台2和检测放置台10连接处预留让位槽20,所述让位槽20形状为弧形,且匹配所述芯片100引脚;让位槽20内部涂抹透明软胶。
全文数据:
权利要求:
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