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申请/专利权人：深圳市聚亿芯电子有限公司
摘要：本申请公开了一种误码测试装置和误码测试设备，属于通信技术领域。该误码测试装置用于对设置在高低温箱内部的被测元件进行高低温测试，包括：测试板，测试板设置在高低温箱的内部，测试板连接被测元件；误码测试模组，误码测试模组设置在高低温箱的内部且与测试板一体化设置，误码测试模组用于测试被测元件的误码率，误码测试模组还用于调节自身温度；控制模组，控制模组设置在高低温箱的外部，控制模组连接误码测试模组，控制模组在高低温测试中起到调节作用。本申请将误码测试模组和测试板一体化设计，并且误码测试模组设置温度调节功能，在解决了接线繁琐且对测试结果的影响较大的问题的前提下，实现了误码测试装置能在工业级温度环境下使用。
主权项：1.一种误码测试装置，用于对设置在高低温箱内部的被测元件进行高低温测试，其特征在于，所述误码测试装置包括：测试板，所述测试板设置在所述高低温箱的内部，所述测试板连接所述被测元件；误码测试模组，所述误码测试模组设置在所述高低温箱的内部且与所述测试板一体化设置，所述误码测试模组用于测试所述被测元件的误码率，所述误码测试模组还用于调节自身温度；控制模组，所述控制模组设置在所述高低温箱的外部，所述控制模组连接所述误码测试模组，所述控制模组用于调节所述误码率的测试速率并辅助所述误码测试模组调节温度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市聚亿芯电子有限公司 误码测试装置和误码测试设备
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