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申请/专利权人：成都电科星拓科技有限公司

摘要：本发明提供了一种误码率测试电路与接口芯片，涉及测试电路技术领域。该误码率测试电路包括信号生成模块与信号检测模块，信号生成模块与信号检测模块通过信号通道实现通信；信号生成模块用于生成多个并行的测试码，并将测试码进行并行转串行方式处理后，通过信号通道发送至信号检测模块；信号检测模块用于恢复信号通道的测试码，并将恢复的测试码通过串行转并行处理后，进行误码率测试；其中，信号生成模块与信号检测模块的内部均采用CMOS电路结构。本发明提供的误码率测试电路与接口芯片具有减小了版图面积与电路功耗的优点。

主权项：1.一种误码率测试电路，其特征在于，所述误码率测试电路包括信号生成模块和信号检测模块，所述信号生成模块与所述信号检测模块通过信号通道实现通信；所述信号生成模块用于生成多个并行的测试码，并将所述测试码进行并行转串行处理后，通过所述信号通道发送至所述信号检测模块；所述信号检测模块用于恢复所述信号通道的测试码，并将恢复的测试码通过串行转并行处理后，进行误码率测试；其中，所述信号生成模块与所述信号检测模块的内部均采用CMOS电路结构；所述信号生成模块包括：振荡器、第一分频器、伪随机码生成单元以及并转串单元，所述振荡器、所述第一分频器、所述伪随机码生成单元以及所述并转串单元依次电连接，所述第一分频器还与所述并转串单元电连接；其中，所述振荡器用于生成初始时钟信号；所述第一分频器用于对所述初始时钟信号进行分频，并得到多种频率不同的备用时钟信号；所述伪随机码生成单元用于依据所述备用时钟信号生成并行的多路测试码；所述并转串单元用于依据多种备用时钟信号将并行的多路测试码转换为串行数据信号，并将所述串行数据信号通过信号通道发送至所述信号检测模块；当所述伪随机码生成单元输出n路并行的测试码时，所述伪随机码生成单元中异或门的数量设置为n个，D触发器的数量设置为n+1个，n个所述异或门的输出端分别与第二个~第n+1个所述D触发器的输入端相连，第n+1个所述D触发器的输出端与第一个所述D触发器的输入端相连，前n个所述D触发器输出n路并行的测试码，同时，第i个所述D触发器与第i+2个所述D触发器的输出作为第i个所述异或门的输入，1≤i≤n-1，第一个所述异或门的输出和第n个所述D触发器的输出作为第n个所述异或门的输入；或者，当所述伪随机码生成单元输出n路并行的测试码时，所述伪随机码生成单元中异或门的数量设置为n个，D触发器的数量也设置为n个，每个所述异或门的输出端与一个所述D触发器的输入端相连，且n个所述D触发器的输出作为所述伪随机码生成单元的n路并行输出，同时，n个所述D触发器的输出与n个所述异或门的输出依次组合成2n个数据信号，第j+1个数据信号与第j+4个数据信号作为第j个所述异或门的输入，1≤j≤n。

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