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申请/专利权人：中冶武汉冶金建筑研究院有限公司;中国一冶集团有限公司
摘要：本申请提供了一种X射线荧光光谱分析玻璃样片存放装置，该装置包括盒体、盒盖和支架；盒体为方形结构，上部开口，盒盖与盒体开合配合；支架安装于所述盒体内，支架上配置有若干样片位，若干所述样片位呈矩形阵列分布；所述样片位呈圆弧形，具有与玻璃样片相匹配的弧形凹槽。上述X射线荧光光谱分析玻璃样片存放装置通过在盒体内设置支架，在支架上成阵列分布若干样片位，每个样片位都具有弧形凹槽，所有样片位相互独立，每个弧形凹槽都可以插入一块玻璃样片，玻璃样片通过弧形凹槽固定，玻璃样片与玻璃样片之间有一定间隔，避免了玻璃样片的碰撞、摩擦、污染，减少玻璃样片的污染和磨损。
主权项：1.一种X射线荧光光谱分析玻璃样片存放装置，其特征在于，包括：盒体，方形结构，上部开口；盒盖，配置于所述盒体，与所述盒体开合配合；支架，安装于所述盒体内，支架上配置有若干样片位，若干所述样片位呈矩形阵列分布；所述样片位呈圆弧形，具有与玻璃样片相匹配的弧形凹槽。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中冶武汉冶金建筑研究院有限公司 中国一冶集团有限公司 X射线荧光光谱分析玻璃样片存放装置
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