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申请/专利权人：马克西姆综合产品公司
摘要：本发明的各种实施例涉及连续地验证半导体器件的状态完整性。组合计数器以形成所述半导体器件内的控制寄存器的循环冗余校验CRC计算的一部分。所述计数器被初始化为零，并且在预定数量的周期之后被重置。将计数器值添加到当前计算的CRC值以得到组合CRC值。每次为寄存器组计算CRC值时，计数器值都会更新，例如递增。如果CRC计算重复足够的次数，则计数器值将达到其最大值，并且然后滚动到其初始值零。如果寄存器组中未发生错误，则滚动点处的组合CRC值将与初始组合CRC值相匹配。组合CRC值的这种重复模式可以用于连续地监测控制寄存器的完整性。
主权项：1.一种用于连续地验证器件状态完整性的方法，所述方法包括：在当前时间处读取半导体器件以获得当前读取值，所述当前读取值是在所述当前时间处的所述半导体器件的状态值与在所述当前时间处来自计数器的计数器值的组合，所述状态值是以预定时段循环计算的，在计算所述状态值时更新所述计数器值，所述计数器值在预定的状态值计算周期之后被重置；将所述当前读取值与存储值进行比较，所述存储值是根据在所述当前时间之前的预定时间间隔处读取所述半导体器件获得的，所述存储值是在所述当前时间之前的预定时间间隔处的所述半导体器件的状态值与在所述当前时间之前的预定时间间隔处的计数器值的组合；以及至少基于所述比较来验证所述半导体器件的状态完整性。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 马克西姆综合产品公司 用于连续验证器件状态完整性的系统和方法
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