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申请/专利权人：上海壁仞科技股份有限公司
摘要：本发明提供一种芯片验证方法、装置、设备及介质，其中方法包括：从芯片的各下级环境的子环境中，确定目标子环境，子环境中包括所述下级环境中用于向上集成的代码，子环境是在对所述下级环境进行验证的过程中同步建立的；基于目标子环境，进行芯片验证。本发明简化了上级验证环境的搭建过程，避免了重复劳动，提高了开发效率。并且，目标子环境的直接应用，能够优化上级环境的代码风格，提高上级环境代码的可读性。此外，由于子环境在下级环境的验证过程建立，子环境中的代码已经在下级验证过程中经过优化和整合，子环境中代码的功能正确性得以保证，芯片验证的可靠性也得到保证。
主权项：1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：从芯片的各下级环境的子环境中，确定目标子环境，所述子环境中包括所述下级环境中用于向上集成的代码，所述子环境是在对所述下级环境进行验证的过程中同步建立的；基于所述目标子环境，进行芯片验证。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海壁仞科技股份有限公司 芯片验证方法、装置、设备及介质
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