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芯片设计工具中布局质量评估方法及装置 

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申请/专利权人:华为技术有限公司

摘要:本申请实施例提供一种芯片设计工具中布局质量评估方法及装置,该方法包括:在执行布线之前,根据n个模块中的每个模块内部的多个宏单元的布局结果确定每个模块的m个质量指标的值,m个质量指标用于反映多个宏单元之间的时序信息或拥塞信息;根据m个质量指标的值输出每个模块的布局质量的评估结果。本申请的方案能够缩短评估周期,有利于提高芯片布局的迭代优化的效率。

主权项:1.一种芯片设计工具中布局质量评估方法,其特征在于,包括:获取n个模块中的每个模块内部的多个宏单元的布局结果,n为大于1的整数;在执行布线之前,根据所述多个宏单元的布局结果确定所述每个模块的m个质量指标的值,所述m个质量指标用于反映所述多个宏单元之间的时序信息或拥塞信息,m为正整数;根据所述m个质量指标的值输出所述每个模块的布局质量的评估结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 华为技术有限公司 芯片设计工具中布局质量评估方法及装置

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