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申请/专利权人：浙江怡钛积科技有限公司
摘要：本发明提出了斜入射下测量和评价偏光片的方法及其应用，包括选取特定光谱仪，加装偏振片以匹配样品偏振性；通过对比测量数据确定代表性测量角度；利用滤波和插值优化数据质量；遵循标准计算色度参数并构建评价体系，以彩度C*ab为主要指标；最终呈现测量结果。装置包括光谱仪、角度确定模块、数据优化模块、色度计算和评价模块及呈现模块。本发明可准确测量和评价偏光片成品的大视角补偿功能，提升产品质量评估的准确性和效率。
主权项：1.一种斜入射下测量和评价偏光片的方法，其特征在于，包括以下步骤：S00、选取光源在两轴方向上能量一致的光谱仪，且光源在±45°方向上能量分布均匀，并根据测量需求在该光谱仪的出光口加装±45°晶体偏振片，以调整出射光的振动方向，确保在所有测量角度下光源的偏振性与样品匹配；S10、通过对不同批次样品在多个入射角和方位角下的测量数据对比，运用三次样条插值寻找曲率最小点，选取合适的入射角以及方位角作为代表性测量角度；S20、测量时，通过先滤波后插值的方法对测量数据进行优化，以提升数据质量；S30、遵循CIE1931标准，从光谱数据计算三刺激值、CIELAB色度空间参数，并结合sRGB色彩空间转换，以实现色度的计算与直观展现；S40、以彩度C*ab作为主要评价指标，构建评价体系；其中，彩度C*ab来自CIELAB色度空间参数，表示饱和度；评价体系以C*ab≤1.5为优，C*ab4为差，1.5＜C*ab≤4为良；S50、根据测量结果呈现。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 浙江怡钛积科技有限公司 一种斜入射下测量和评价偏光片的方法及其应用
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