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申请/专利权人：苏州上器试验设备有限公司
申请日：2023-11-21
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN221281073U
主分类号：G01R1/04
分类号：G01R1/04;G01R1/067;G01R27/02
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.07.05#授权
摘要：本实用新型公开了一种测试接触电阻的探头结构，包括金属探杆以及设置在金属探杆顶端的探头元件筒，且金属探杆与探头元件筒内部的电子元件电性连接，所述探头元件筒的顶端设置有探头外接电线，通过在该测试接触电阻探头的金属探杆上增加有一个新型的延长接触装置，延长接触装置主要是在金属探杆内部增加延长调节螺孔，且在延长调节螺孔中增加可调节长度的金属延长螺杆，且金属延长螺杆与金属探杆采用相同金属制成，这样能够使得两者之间形成稳定的导电通路，金属延长螺杆调节后向外延长则能够增加整个金属探杆的长度，这样能够使得金属探杆可根据检测需求调节不同的检测长度，避免在特殊情况下金属探杆长度较短而够不着被检测物的情况发生。
主权项：1.一种测试接触电阻的探头结构，包括金属探杆7以及设置在金属探杆7顶端的探头元件筒3，且金属探杆7与探头元件筒3内部的电子元件电性连接，所述探头元件筒3的顶端设置有探头外接电线1，且探头外接电线1与探头元件筒3内部电子元件电性连接，其特征在于：所述金属探杆7内部以及底部连接有延长接触装置8；所述延长接触装置8包括延长调节螺孔11和金属延长螺杆12，所述延长调节螺孔11设置在金属探杆7的内部，且延长调节螺孔11开口方向朝下，同时延长调节螺孔11的深度大于金属探杆7的一半长度，所述延长调节螺孔11中自下而上螺纹插接有金属延长螺杆12。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州上器试验设备有限公司 一种测试接触电阻的探头结构
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