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申请/专利权人：杭州光学精密机械研究所
申请日：2023-11-09
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN221280916U
主分类号：G01N21/01
分类号：G01N21/01
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.07.05#授权
摘要：本申请的实施例提供了一种芯片卡测试组件和芯片卡测试仪器。芯片卡测试组件包括壳体、灯光件、测试件和芯片卡；灯光件和测试件均相对于芯片卡测试工位布置，并且处于壳体内，而芯片卡穿设于壳体，并容纳于容纳槽；芯片卡的进料处处于壳体外，并用于供待测试液进入至测试试纸的入料端，以便于待测试液在壳体的外部浸湿测试试纸，充分利用了壳体的外部空间，并且使用者清楚地观察待测试液与测试试纸的浸湿情况，提高了芯片卡测试组件的测试效果，待测试液经过孔进入至测试试纸的入料端，并且浸湿测试试纸，以便于测试试纸的测试端被测试件测试，灯光件的灯光端朝向芯片卡测试工位，并对测试试纸的测试端照明，提高了芯片卡测试组件的测试准确性。
主权项：1.一种芯片卡测试组件，其特征在于，应用于芯片卡测试仪器；所述芯片卡测试组件包括：壳体，设有测试槽，所述测试槽具有芯片卡测试工位；灯光件，处于所述芯片卡测试工位的上方，所述灯光件的灯光端朝向所述芯片卡测试工位；测试件，处于所述灯光件的下方，所述测试件的测试端朝向所述芯片卡测试工位；芯片卡，穿设于所述壳体，并容纳于所述测试槽；所述芯片卡内置有测试试纸；所述芯片卡的进料处处于所述壳体外，并用于供待测试液进入至所述测试试纸的入料端；所述测试试纸的测试端相对于所述芯片卡测试工位布置，并被测试件测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州光学精密机械研究所 芯片卡测试组件和芯片卡测试仪器
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