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申请/专利权人：法特迪精密科技(苏州)有限公司
申请日：2023-09-27
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN117269725B
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28;G01R1/04;H05K7/20
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.07.05#授权;2024.01.09#实质审查的生效;2023.12.22#公开
摘要：本发明涉及一种老化测试插座。本发明的老化测试插座包括：测试座、测试盖和侧风挡块。本发明的老化测试插座的侧风挡块设置于测试座上，测试盖与测试座闭合时，测试盖边缘与侧风挡块接触，侧风挡块高度等于测试盖与测试座的边框间隙高度；侧风挡块能够抵挡由侧风挡块所在侧吹向待测试芯片所在腔室的风。同时，在散热模块周围增设工程塑料材质的隔热片，在测试座底部增设工程塑料材质的底板,使得本发明得老化测试插座仅通过顶部散热鳍片散热，从而保证测试区域温度的稳定。
主权项：1.一种老化测试插座，其特征在于，用于固定于PCB板上进行老化测试，包括：测试座，所述测试座内设置有用于承载待测试芯片的腔室；测试盖，所述测试盖为一中空的框架，该测试盖的一端转动连接于所述测试座的一端，所述测试盖包括隔热片，所述隔热片为工程塑料材质，该隔热片中心设置有一通孔；散热模块，所述散热模块内嵌于所述测试盖内，其下表面在所述测试盖闭合时与所述待测试芯片接触，上表面为若干散热鳍片，所述散热模块嵌套于所述通孔内；侧风挡块，所述侧风挡块设置于所述测试座上，位于所述测试座与所述测试盖连接端相邻的两侧；所述侧风挡块高度等于所述测试盖与所述测试座闭合时的间隙高度，且所述侧风挡块上下表面分别与所述测试盖边框、所述测试座边缘接触，所述侧风挡块为工程塑料；所述侧风挡块为浮动结构；探针固定组件，设置于所述测试座下方，所述探针固定组件内稳定放置有若干弹簧探针；底板，所述底板设置于所述测试座与所述PCB板之间，所述底板上设置有与所述探针固定组件相对应的探针孔；所述底板材质为工程塑料；其中，所述测试盖与所述测试座闭合时，所述侧风挡块能够抵挡由所述侧风挡块所在侧吹向所述待测试芯片所在腔室的风。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 法特迪精密科技(苏州)有限公司 老化测试插座
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