申请/专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院

申请日：2023-01-04

公开（公告）日：2024-07-05

公开（公告）号：CN118295027A

主分类号：G01V1/36

分类号：G01V1/36

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开

摘要：本发明提供了一种复杂地表浮动基准面校正方法。该方法确定工区炮点、检波点处的静校正量以及计算所述静校正量所用的高速层顶界面；基于工区炮点、检波点处的静校正量，利用平均静校正量法得到浮动基准面的低频静校正量，并计算CMP道集内各道对应的炮点、检波点处的高频静校正量；计算CMP道集内各道对应的炮点、检波点处从地表到所述高速层顶界面的剥离时间量；重构各个CMP道集的低频静校正量，使得在各个CMP道集内每道对应的炮点、检波点处的高频静校正量不小于每道对应的炮点、检波点处从地表到高速层顶界面的剥离时间量；基于重构的低频静校正量，重新计算CMP道集内各道对应的炮、检波点处的高频静校正量；基于重构的低频静校正量和重新计算的高频静校正量，将CMP道集校正到新的浮动基准面。

主权项：1.一种复杂地表浮动基准面校正方法，其特征在于，包括以下步骤：S100，确定工区炮点、检波点处的静校正量以及计算所述静校正量所用的高速层顶界面；S200，基于工区炮点、检波点处的静校正量，利用平均静校正量法得到浮动基准面的低频静校正量，并计算CMP道集内各道对应的炮点、检波点处的高频静校正量；S300，计算CMP道集内各道对应的炮点、检波点处从地表到所述高速层顶界面的剥离时间量；S400，重构各个CMP道集的低频静校正量，使得在各个CMP道集内每道对应的炮点、检波点处的高频静校正量不小于每道对应的炮点、检波点处从地表到高速层顶界面的剥离时间量；S500，基于重构的低频静校正量，重新计算CMP道集内各道对应的炮、检波点处的高频静校正量；S600，基于重构的低频静校正量和重新计算的高频静校正量，将CMP道集校正到新的浮动基准面。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国石油化工股份有限公司 中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 一种复杂地表浮动基准面校正方法

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