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电离层电子密度的确定方法、装置、电子设备及存储介质 

申请/专利权人:上海双微导航技术有限公司

申请日:2024-04-23

公开(公告)日:2024-07-05

公开(公告)号:CN118294983A

主分类号:G01S19/07

分类号:G01S19/07

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开

摘要:本发明公开了一种电离层电子密度的确定方法、装置、电子设备及存储介质,涉及通信技术领域,该方法包括:确定初始基带信号,初始基带信号包括目标干扰信号和目标卫星信号,目标卫星信号为经过电离层的第一卫星导航信号,第一卫星导航信号为数字信号;基于目标干扰信号、目标卫星信号和波束调整规则确定目标基带信号,目标基带信号包括至少一个卫星频点数据,卫星频点数据包括伪距观测值和载波相位观测值;基于各伪距观测值、各载波相位观测值和电子密度解算规则确定电离层的电子密度。本发明的技术方案,通过波束调整规则对初始基带信号进行处理,可以降低干扰信号对电子密度解算工作的影响,有效提升了电离层电子密度的测量工作的可靠性。

主权项:1.一种电离层电子密度的确定方法,其特征在于,包括:确定初始基带信号,其中,所述初始基带信号包括目标干扰信号和目标卫星信号,所述目标卫星信号为经过电离层的第一卫星导航信号,所述第一卫星导航信号为数字信号;基于所述目标干扰信号、所述目标卫星信号和波束调整规则,确定目标基带信号,其中,所述目标基带信号包括至少一个卫星频点数据,所述卫星频点数据包括伪距观测值和载波相位观测值;基于各所述伪距观测值、各所述载波相位观测值和电子密度解算规则,确定所述电离层的电子密度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海双微导航技术有限公司 电离层电子密度的确定方法、装置、电子设备及存储介质

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