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申请/专利权人：电子科技大学
申请日：2024-04-09
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN118294424A
主分类号：G01N21/64
分类号：G01N21/64;G01N23/207;G01N23/20025
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开
摘要：本发明提供了一种可正反面激发的柔性弯曲薄膜时间分辨光致发光测试装置及方法，属于柔性半导体薄膜技术领域，具体为：设计制造不同弯曲半径的弯曲测试夹具；将待测的柔性薄膜弯曲放入弯曲测试夹具，通过夹具两翼固定槽固定薄膜，通过夹具贴合面实现固定弯曲半径下的薄膜弯曲状态；将夹具固定到时间分辨光致发光光谱仪之中，通过翻转半导体薄膜或弯曲测试夹具实现了弯曲柔性薄膜的正反面激发时间分辨光致发光测试方法。
主权项：1.一种可正反面激发的柔性弯曲薄膜时间分辨光致发光测试装置，其特征在于，所述装置为弯曲测试夹具，包括本体、通光孔3、薄膜固定槽2、夹具贴合面1，弯曲测试夹具本体为圆弧板，通光孔3位于圆弧板的中心，圆弧板的内表面为平整的夹具贴合面1，夹具贴合面1的左右末端具有突起的薄膜固定槽2。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 电子科技大学 一种柔性弯曲薄膜时间分辨光致发光测试装置及方法
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