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申请/专利权人：中国电子技术标准化研究院((工业和信息化部电子工业标准化研究院)(工业和信息化部电子第四研究院))
申请日：2024-04-08
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN118295914A
主分类号：G06F11/36
分类号：G06F11/36;G06F17/13;G06F17/18
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开
摘要：本发明提供了一种服务器高性能计算场景性能测试平台，它通过搭建包含计算节点、高速互联网络组件、存储组件、管理与散热组件的测试平台，进行多次测试与分析，得出服务器在负荷情况下的性能表现。测试平台可以采用STAR‑panel分析工具进行测试，并从各组件收集性能与功耗信息。发明还特别指出了测试平台包括Arm平台和X86平台，且单节点内存不低于96GiB。测试用例的测试指标包括运行时间与功耗，根据测试结果编写的测试报告中详细记录了各种配置信息，提供了全面的服务器性能评估与分析。
主权项：1.一种服务器高性能计算场景性能测试平台，其特征在于：所述的测试平台包括：搭建高性能计算场景测试平台，包括计算节点、高速互联网络组件、存储组件、管理与散热组件；在测试平台上对测试用例进行测试，用例参数的取值应使得服务器正常运行的情况下CPU达到满载，进行多次测试；根据测试结果，编写测试报告。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子技术标准化研究院((工业和信息化部电子工业标准化研究院)(工业和信息化部电子第四研究院)) 一种服务器高性能计算场景性能测试平台
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