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场景检测方法、芯片、电子设备以及存储介质 

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申请/专利权人:晶晨半导体(上海)股份有限公司

摘要:一种场景检测方法、芯片、电子设备以及存储介质,所述方法包括:计算周围块与当前中心块的匹配误差;基于中心块沿行向获得第一匹配误差参考极大值作为水平预测深度;基于中心块沿列向获得第二匹配误差参考极大值作为垂直预测深度;根据水平预测深度设置第一水平阈值和第二水平阈值;沿行向基于匹配误差与第一水平阈值和第二水平阈值,判断匹配误差周期变化的次数作为第一数值;根据垂直预测深度设置第一垂直阈值和第二垂直阈值;沿列向基于匹配误差与第一垂直阈值和第二垂直阈值,判断匹配误差周期变化的次数作为第二数值;根据第一数值和第二数值,判断当前中心块是否位于周期性场景。本发明对周期性场景进行检测,有利于提高运动估计的准确性。

主权项:1.一种场景检测方法,其特征在于,包括:在以当前中心块为中心的搜索范围内,计算周围块与当前中心块的匹配误差;基于中心块沿行方向获得第一匹配误差参考极大值作为水平预测深度,所述水平预测深度用于作为设置第一水平阈值和第二水平阈值的参考值;基于中心块沿列方向获得第二匹配误差参考极大值作为垂直预测深度,所述垂直预测深度用于作为设置第一垂直阈值和第二垂直阈值的参考值;根据所述水平预测深度设置第一水平阈值和第二水平阈值,第一水平阈值大于第二水平阈值;沿着搜索范围行向基于块的匹配误差与第一水平阈值和第二水平阈值的相对大小的比较结果,判断匹配误差周期变化的次数,作为第一数值;根据所述垂直预测深度设置第一垂直阈值和第二垂直阈值,第一垂直阈值大于第二垂直阈值;沿着搜索范围列向基于块的匹配误差与第一垂直阈值和第二垂直阈值的相对大小的比较结果,判断匹配误差周期变化的次数,作为第二数值;根据所述第一数值和第二数值,判断当前中心块是否位于周期性场景;获得第一匹配误差参考极大值的步骤包括:基于中心块沿行方向获得匹配误差连续增大直至不再连续增大时的第一块数,确定水平预测半径;获得与中心块沿行向距离为水平预测半径对应块的匹配误差,作为第一匹配误差参考极大值;获得第二匹配误差参考极大值的步骤包括:基于中心块沿列方向获得匹配误差连续增大直至不再连续增大时的第二块数,确定垂直预测半径;获得与中心块沿列向距离为垂直预测半径对应块的匹配误差,作为第二匹配误差参考极大值;获得与中心块沿行向距离为水平预测半径对应块的匹配误差,作为第一匹配误差参考极大值的步骤包括:获得沿行方向位于中心块的一侧且与中心块的距离为水平预测半径的块对应的第一匹配误差,以及获得沿行方向位于中心块的另一侧且与中心块的距离为水平预测半径的块对应的第二匹配误差;取第一匹配误差和第二匹配误差中的较小值,作为所述第一匹配误差参考极大值;获得与中心块沿列向距离为垂直预测半径对应块的匹配误差,作为第二匹配误差参考极大值的步骤包括:获得沿列方向位于中心块的一侧且与中心块的距离为垂直预测半径的块对应的第三匹配误差,以及获得沿列方向位于中心块的另一侧且与中心块的距离为垂直预测半径的块对应的第四匹配误差;取第三匹配误差和第四匹配误差中的较小值,作为所述第二匹配误差参考极大值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 晶晨半导体(上海)股份有限公司 场景检测方法、芯片、电子设备以及存储介质

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