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申请/专利权人：三星电子株式会社
申请日：2024-01-03
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN118298891A
主分类号：G11C29/12
分类号：G11C29/12
优先权：["20230105 KR 10-2023-0001957"]
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.07.05#公开
摘要：提供字线缺陷检测电路、字线缺陷检测方法和存储器装置。所述字线缺陷检测电路被配置为检测从存储器装置的多条字线之中选择的至少一条字线的缺陷，所述字线缺陷检测电路包括：电流生成电路，被配置为生成具有第一大小的检测参考电流并将检测参考电流施加到被选字线；以及感测放大器，被配置为测量基于检测参考电流而生成的被选字线的电压。所述字线缺陷检测电路可被配置为响应于被选字线的所述电压具有小于第一参考电压的值而检测到被选字线的缺陷。
主权项：1.一种字线缺陷检测电路，所述字线缺陷检测电路被配置为检测至少一条字线的缺陷，所述至少一条字线是从存储器装置的多条字线选择的第一字线，所述字线缺陷检测电路包括：电流生成电路，被配置为使被选的第一字线放电，生成具有第一大小的检测参考电流，并且将检测参考电流施加到被选的第一字线；感测放大器，被配置为测量被选的第一字线的电压；以及处理器，被配置为：响应于确定根据将检测参考电流施加到被选的第一字线的所述电压小于参考电压，检测到被选的第一字线中存在的缺陷，并且响应于被选的第一字线的所述电压不小于参考电压，确定被选的第一字线没有缺陷。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 三星电子株式会社 字线缺陷检测电路、字线缺陷检测方法和存储器装置
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