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申请/专利权人：上海显耀显示科技有限公司
摘要：一种用于构建微型LED阵列面板的缺陷等级分类模型的方法，包括：定义用于对像素缺陷进行分类的缺陷分类规则；检测所述微型LED阵列面板的像素缺陷；根据所述缺陷分类规则来识别检测到的像素缺陷的像素缺陷类型；以及根据缺陷等级分类规则和识别出的像素缺陷类型来识别所述微型LED阵列面板的缺陷等级。
主权项：1.一种用于构建微型LED阵列面板的缺陷等级分类模型的方法，其特征在于，包括：步骤01：定义用于对像素缺陷进行分类的缺陷分类规则；步骤02：检测所述微型LED阵列面板的像素缺陷；步骤03：根据所述缺陷分类规则来识别检测到的像素缺陷的像素缺陷类型；以及步骤04：根据缺陷等级分类规则和识别出的像素缺陷类型来识别所述微型LED阵列面板的缺陷等级。
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权利要求：
百度查询： 上海显耀显示科技有限公司 用于构建缺陷等级分类模型的系统
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