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一种主板测试架双边联动结构 

申请/专利权人:深圳市中擎电子有限公司

申请日:2023-11-13

公开(公告)日:2024-07-02

公开(公告)号:CN221261172U

主分类号:G01R31/28

分类号:G01R31/28;G01R1/04;G01R1/02

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.07.02#授权

摘要:本实用新型公开了一种主板测试架双边联动结构,包括联动手柄、第一滑块、连杆和第二滑块;所述联动手柄底部连接一个纵向布置的第一滑块;所述第一滑块安装在机盒的面板底部,第一滑块连接有一对对称的连杆;所述两连杆的另一端分别连一个横向布置的第二滑块;所述第二滑块安装在机盒的面板底部,第二滑块上方通过机盒面板上的孔位,与盒体上放的测试架连接;所述联动手柄控制第一滑块纵向运动,第一滑块通过两连杆带动两侧第二滑块横向移动。本实用新型的双边联动结构实现了90度转向运动,通过一个联动手柄能够带动两侧的测试架的横向移动,一套机构可以控制两边测试架,节省操作时间,节省设备的空间。

主权项:1.一种主板测试架双边联动结构,其特征在于,包括联动手柄、第一滑块、连杆和第二滑块;所述联动手柄底部连接一个纵向布置的第一滑块;所述第一滑块安装在机盒的面板底部,第一滑块连接有一对对称的连杆;所述两连杆的另一端分别连一个横向布置的第二滑块;所述第二滑块安装在机盒的面板底部,第二滑块上方通过机盒面板上的孔位,与盒体上放的测试架连接;所述联动手柄控制第一滑块纵向运动,第一滑块通过两连杆带动两侧第二滑块横向移动。

全文数据:

权利要求:

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