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申请/专利权人：北京振兴计量测试研究所;中国人民解放军96901部队
摘要：本发明涉及一种基于ATE的大规模FPGA测试方法，属于FPGA测试技术领域，解决了大规模FPGA测试过程中存在的硬件测试系统速度不够、软件配置方法不成熟的问题。该方法包括：编写适配于待测FPGA的功能模块的配置程序，并固化在配置FLASH中；待测FPGA和配置FLASH上电，待测FPGA从配置FLASH中载入前置BIT流文件，并进行前置配置；ATE选定功能模块，向待测FPGA发送该功能模块的配置指令，控制待测FPGA在主SPI模式下执行：从配置FLASH中载入该功能模块的可执行BIT流文件，并执行该功能模块的配置；ATE向待测FPGA发送该功能模块的测试指令，控制待测FPGA执行该功能模块的测试，并输出测试观测信号；ATE基于采集到的该功能模块的测试观测信号判断该功能模块是否测试通过。
主权项：1.一种基于ATE的大规模FPGA测试方法，其特征在于，包括：编写适配于待测FPGA的功能模块的配置程序，并将所述配置程序固化在所述待测FPGA的配置FLASH中；所述配置程序包括前置BIT流文件、以及每一功能模块的可执行BIT流文件；待测FPGA和配置FLASH上电，待测FPGA从配置FLASH中载入前置BIT流文件，并进行前置配置；ATE选定功能模块，向待测FPGA发送该功能模块的配置指令，控制待测FPGA在主SPI模式下执行：从配置FLASH中载入该功能模块的可执行BIT流文件，并执行该功能模块的配置；ATE向待测FPGA发送该功能模块的测试指令，控制待测FPGA执行该功能模块的测试，并输出该功能模块的测试观测信号；ATE基于采集到的该功能模块的测试观测信号判断该功能模块是否测试通过；所述功能模块至少包括IOB功能模块、GTH功能模块、存储器功能模块及PCIE功能模块。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京振兴计量测试研究所 中国人民解放军96901部队 一种基于ATE的大规模FPGA测试方法
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