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ATE测试机校准方法和系统、电子设备、存储介质 

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申请/专利权人:珠海芯业测控有限公司

摘要:本发明公开了一种ATE测试机校准方法和系统、电子设备、存储介质,涉及ATE校准技术领域。该方法包括:上位机发送测试指令给TMU板卡;TMU板卡将测试指令发送给检测校准板;根据测试指令,检测校准板通过精密万用表对DPS板卡的DPS通道进行校准;将PEC板卡的所有CH通道均分为多组校准通道,每组校准通道对应一个DPS通道,检测校准板通过校准后的DPS通道对多组校准通道内的CH通道进行校准。根据本发明实施例的ATE测试机校准方法,用精密万用表将DPS板卡校准完成后,用DPS板卡去校准PEC板卡,从而大大地节省了时间成本,提高了检测校准的效率。

主权项:1.一种ATE测试机校准方法,其特征在于,应用于ATE测试机,所述ATE测试机包括PEC板卡、DPS板卡、检测校准板和TMU板卡,所述方法包括以下步骤:上位机发送测试指令给所述TMU板卡;所述TMU板卡将所述测试指令发送给所述检测校准板;根据所述测试指令,所述检测校准板通过精密万用表对所述DPS板卡的DPS通道进行校准;将所述PEC板卡的所有CH通道均分为多组校准通道,每组所述校准通道对应一个所述DPS通道,所述检测校准板通过校准后的所述DPS通道对多组所述校准通道内的所述CH通道进行校准。

全文数据:

权利要求:

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