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申请/专利权人：滨州魏桥国科高等技术研究院;杭州电子科技大学;山东宏桥新型材料有限公司
申请日：2024-04-28
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN118261904A
主分类号：G06T7/00
分类号：G06T7/00;G06V10/764;G06N3/0455;G06N3/0464;G06N3/0895;G06N3/042;G06N3/088
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.28#公开
摘要：本发明公开了一种基于记忆自编码器的无监督背景重建缺陷检测方法及系统，方法包括如下步骤：步骤S100，建立包括编码器和解码器的自编码器网络，生成重建图像；步骤S200，设计基于图像差异分析的表面缺陷识别方法，利用重建图像，分析原始图像和重建图像之间的差异；步骤S300，设计类别相关的卷积‑池化模块，保留图像特征中与类别相关的空间特征；步骤S400，通过高分辨率的特征提取，提高空间响应热图的分辨率；步骤S500，引入知识蒸馏策略进行知识迭代，实现图像中缺陷目标的检测。本发明解决了由于缺陷样本被低误差重构而导致的漏检的问题，实现了不均匀图像的缺陷检测和基于图像的空间特征实现缺陷的精确定位。
主权项：1.基于记忆自编码器的无监督背景重建缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S100，建立包括编码器和解码器的自编码器网络，生成重建图像；步骤S200，设计基于图像差异分析的表面缺陷识别方法，利用重建图像，分析原始图像和重建图像之间的差异；步骤S300，设计类别相关的卷积-池化模块，保留图像特征中与类别相关的空间特征；步骤S400，通过高分辨率的特征提取，提高空间响应热图的分辨率；步骤S500，引入知识蒸馏策略进行知识迭代，实现图像中缺陷目标的检测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 滨州魏桥国科高等技术研究院;杭州电子科技大学;山东宏桥新型材料有限公司 基于记忆自编码器的无监督背景重建缺陷检测方法及系统
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