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申请/专利权人：致茂电子(苏州)有限公司
申请日：2023-11-14
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN221199756U
主分类号：G01R1/04
分类号：G01R1/04;G01R1/073;G01R31/28
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.21#授权
摘要：一种测试装置及其测试座，测试装置包含一电路板及一测试座。电路板包含多个第一接点与第二接点。测试座包含一座体、一第一导接件、一第二导接件、多个第一伸缩探针及多个第二伸缩探针。第一导接件与第二导接件分别位于座体上，用以分别接触待测物的第一电极及第二电极。这些第一伸缩探针间隔分布于第一导接件上，电连接第一导接件，且分别接触第一接点。这些第二伸缩探针间隔分布于第二导接件上，电连接第二导接件，且分别接触第二接点。通过以上架构，本实用新型能够因应待测物的此些电极的高度起伏，让此些伸缩探针紧密接触电路板的此些接点，提高测试装置对于待测物的导电效率，从而让量测效果更为精准。
主权项：1.一种测试装置，其特征在于，包含：一电路板，包含多个第一接点与多个第二接点；以及一测试座，包含：一座体；一第一导接件，位于该座体上，用以接触一待测物的一第一电极；一第二导接件，位于该座体上，与该第一导接件实体分离，用以接触该待测物的一第二电极；多个第一伸缩探针，间隔分布于该第一导接件上，电连接该第一导接件，且分别接触所述多个第一接点；以及多个第二伸缩探针，间隔分布于该第二导接件上，电连接该第二导接件，且分别接触所述多个第二接点。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 致茂电子(苏州)有限公司 测试装置及其测试座
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