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一种大料陶瓷片X-ray检测机结构及使用方法 

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申请/专利权人:江苏华锟智能科技有限公司

摘要:本发明提供一种大料陶瓷片X‑ray检测机结构及使用方法,涉及陶瓷X‑ray检测领域。该一种大料陶瓷片X‑ray检测机结构,包括检测机外壳,述检测机外壳的内部侧壁固定连接有隔板,所述隔板的中部固定连接有第一支架,所述第一支架的上端固定连接有转动电机,所述转动电机的延伸有电机轴且电机轴的侧壁固定连接有转盘,所述转盘的边缘等角度固定连接有治具且数量为四个,所述隔板在转盘的正下方固定连接有次品下料口,所述隔板的上端在次品下料口的一侧固定连接有良品下料口,所述隔板的上端在第一支架的两侧均固定连接有支撑杆,所述支撑杆的上端固定连接有检测装置。本发明定制尺寸且五轨道上料检测,具有检测速度块的优点。

主权项:1.一种大料陶瓷片X-ray检测机结构,包括检测机外壳(1),其特征在于:所述检测机外壳(1)的背面设置有上料机下部(9),所述上料机上部(10)的上端固定连接有上料机上部(10),所述上料机上部(10)与检测机外壳(1)之间设置有导轨(15),所述检测机外壳(1)的内部侧壁固定连接有隔板(14),所述隔板(14)的中部固定连接有第一支架(17),所述第一支架(17)的上端固定连接有转动电机(27),所述转动电机(27)的延伸有电机轴且电机轴的侧壁固定连接有转盘(24),所述转盘(24)的边缘等角度固定连接有治具(23)且数量为四个,所述隔板(14)在转盘(24)的正下方固定连接有次品下料口(28),所述隔板(14)的上端在次品下料口(28)的一侧固定连接有良品下料口(19),所述隔板(14)的上端在次品下料口(28)的另一侧固定连接有支撑柱(20),所述支撑柱(20)的上端固定连接有检测上料机构(21),所述隔板(14)的上端在第一支架(17)的两侧均固定连接有支撑杆(16),所述支撑杆(16)的上端固定连接有检测装置(22);所述检测机外壳(1)的正面下部一侧设置有良品抽屉(2)和次品抽屉(3),所述检测机外壳(1)的正面在良品抽屉(2)和次品抽屉(3)的上方设置有前门(4),所述前门(4)的一扇上部设置有显示面板(6),所述前门(4)的另一扇上部设置有控制面板(7);所述上料机下部(9)的上方固定连接有震动盘(37)且震动盘(37)的外侧设置有上料机上部(10),所述上料机上部(10)的内壁设置有隔音棉,所述震动盘(37)的上端延伸设置有导轨(15);所述隔板(14)的上端靠近支撑柱(20)的因此额固定连接有第二支架(29),所述第二支架(29)的上端固定连接有直震器(30),所述直震器(30)的上端固定连接有导轨(15),所述转动电机(27)的上端固定连接有第一气缸(26),所述第一气缸(26)的一端延伸有推杆(25);所述隔板(14)的上端且在良品下料口(19)和次品下料口(28)的上方均设置有推缸机构(18),所述良品下料口(19)的下端固定连接有第一管(12)且贯穿隔板(14),所述第一管(12)的另一端处在良品抽屉(2)的上方,所述次品下料口(28)的下端固定连接有第二管(13)且贯穿隔板(14),所述第二管(13)的另一端处在次品抽屉(3)的上方;所述检测上料机构(21)包括推料电缸(38),所述推料电缸(38)的一端设置有导轨(15)且导轨(15)为五轨道,所述导轨(15)的下方靠近推料电缸(38)固定连接有位置传感器(39),所述位置传感器(39)的一侧固定连接有推缸机构(18);所述治具(23)包括框架(31),所述框架(31)贯穿设置有转轴(36),所述转轴(36)的中部侧壁固定连接有固定件(35),所述转轴(36)的下端转动连接有推动轴承(34),所述框架(31)的下端在推动轴承(34)的一侧固定连接有挡块(33),所述转轴(36)的下端一侧延伸有结构杆且结构杆上设置有拉簧(32);所述推缸机构(18)包括支撑板(40),所述支撑板(40)上固定连接有第二气缸(41)且数量为五个,所述第二气缸(41)的同一端均设置有顶杆(42)。

全文数据:

权利要求:

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