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申请/专利权人：西安交通大学
摘要：本发明公开了一种根据光学显微镜图像判断十层以内石墨烯具体层数的方法，本发明同时利用石墨烯光镜图中的R、G、B刺激值，考虑了R、G、B刺激值所占对比度权重有所不同以及光镜图拍摄过程中可能存在的光强不均或由于制备工艺使得特定基底厚度有一定误差等随机因素采用随机机会约束模型求取最佳刺激值权重，使得判断结果准确性更高，同时具有操作简单、效率高、设备成本低等特点，本发明方法还可应用于其余基底以及其余二维材料的层数判断。
主权项：1.根据光学显微镜图像判断十层以内石墨烯具体层数的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：根据理论公式计算获取十层以内不同层数石墨烯在特定基底下的理论对比度值；步骤2：在相同光源下，获取特定基底和已知层数石墨烯在该特定基底下的光学显微镜图片；步骤3：对步骤2中的光学显微镜图片提取若干个R、G、B刺激值，并求平均，得到R、G、B的相对刺激值；步骤4：对步骤3中的R、G、B的相对刺激值赋予权重，使得赋予权重后的R、G、B相对刺激值之和接近步骤1中计算得到的石墨烯在特定基底下的理论对比度值；步骤5：在相同光源下，获取特定基底和在该特定基底下待测层数石墨烯的光学显微镜图片；步骤6：对步骤5中的光学显微镜图片中的特定基底和待测石墨烯区域提取R、G、B刺激值，求取相对刺激值；步骤7：根据步骤4中得到的R、G、B相对刺激值权重，将步骤6中待测位置的R、G、B相对刺激值乘以权重后求和，得到实验对比度值；步骤8：将步骤7中的实验对比度值与步骤1中计算得到的不同层数石墨烯的理论对比度值逐一比较，判断石墨烯层数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安交通大学 根据光学显微镜图像判断十层以内石墨烯具体层数的方法
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