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申请/专利权人：乌镇实验室;嘉兴南湖学院
申请日：2024-01-19
公开（公告）日：2024-05-14
公开（公告）号：CN118031809A
主分类号：G01B11/02
分类号：G01B11/02;G01R29/22
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.31#实质审查的生效;2024.05.14#公开
摘要：本发明公开一种光学位移测量系统，涉及压电材料测量技术领域，旨在解决现阶段高压电场环境下的轴向位移测量的装置成本较高，容易受环境影响的问题；包括：光学位移测试装置，通过夹持样品并施加电场，对样本进行轴向位移检测；高压放大器，与光学位移测试装置连接，调节光学位移测试装置的输入电增益比例；运算放大器，与光学位移测试装置连接，对光学位移测试装置的输出测量信号进行运算放大；数据采集卡，分别连接于高压放大器和运算放大器，并连接有电脑端PC。本发明的一种光学位移测量系统，能够准确测量压电陶瓷样品的轴向位移量，具有不易受环境影响、测量速度快、操作使用便捷以及成本较低的特点。
主权项：1.一种光学位移测量系统，其特征在于，包括：光学位移测试装置（4），通过夹持样品并施加电场，对样本进行轴向位移检测；高压放大器（1），与光学位移测试装置（4）连接，调节光学位移测试装置（4）的输入电增益比例；运算放大器（2），与光学位移测试装置（4）连接，对光学位移测试装置（4）的输出测量信号进行运算放大；数据采集卡（6），分别连接于高压放大器（1）和运算放大器（2），并连接有电脑端PC（7）。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 乌镇实验室 嘉兴南湖学院 一种光学位移测量系统
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