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申请/专利权人：上海华力微电子有限公司
摘要：本发明涉及半导体技术领域，提供了一种适用于PHY的通用型RX通道误码率检测系统及检测方法，检测系统包括：控制单元，用于发出控制命令以及目标数据；信号激励单元，用于接收控制命令并基于目标数据产生误码率激励测试信号；PHYRX单元，用于接收误码率激励测试信号并把最终数据传输至误码率测试单元；误码率测试单元，基于FPGA嵌入式系统，用于接收控制命令配置PHY；还用于比较最终数据和目标数据。如此配置，本发明的测试系统是模块化的，可对不同PHY测试提供不同方案，目标数据和FPGA逻辑是可编程，很容易升级，适用于不同PHY的误码率测试。且该系统消除了TX通道对数据传输的影响，可真实且准确的对RX通道的误码率测试，提高测试准确性。
主权项：1.一种适用于PHY的通用型RX通道误码率检测系统，其特征在于，包括：控制单元，用于发出控制命令以及目标数据；信号激励单元，用于所述接收控制命令并基于目标数据产生误码率激励测试信号；PHYRX单元，用于接收所述误码率激励测试信号并把最终数据传输至误码率测试单元；误码率测试单元，基于FPGA嵌入式系统，用于接收所述控制命令，并配置PHY；还用于接收所述最终数据以及所述目标数据，并比较所述最终数据和所述目标数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海华力微电子有限公司 适用于PHY的通用型RX通道误码率检测系统及检测方法
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