申请/专利权人：合肥硅臻芯片技术有限公司

申请日：2023-12-13

公开（公告）日：2024-03-15

公开（公告）号：CN117705274A

主分类号：G01J1/44

分类号：G01J1/44;G01J1/04;G01J9/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.02#实质审查的生效;2024.03.15#公开

摘要：本申请公开一种贝尔态投影测量装置及投影测量方法，包括四个入射端口、三个MZ干涉仪、四个单光子探测器、控制芯片和符合计数器，基于路径编码实现对贝尔态的投影测量，一个MZ干涉仪在控制芯片的作用下实现对输入光子的路径切换，另两个MZ干涉仪对输入的光子实现H门操作，四个单光子探测器对经过H门操作的两个光子进行探测和响应并将信号传输给符合计数器，控制芯片根据符合计数器反馈的响应结果确定两个光子所处的贝尔态。本申请结构简单紧凑、光路稳定且易于片上集成，因此降低了贝尔态投影测量的工艺难度和成本；且相较于偏振编码，本申请具有较高的消光比参数，保证了投影测量效率和精度。

主权项：1.一种贝尔态投影测量装置，其特征在于，包括四个入射端口、第一MZ干涉仪、第二MZ干涉仪、第三MZ干涉仪、控制芯片、四个单光子探测器和符合计数器；四个入射端口分别为第一入射端口、第二入射端口、第三入射端口和第四入射端口，四个单光子探测器分别为第一单光子探测器、第二单光子探测器、第三单光子探测器和第四单光子探测器；入射端口用于接收处于贝尔态的一对光子，一个光子通过第一入射端口或第二入射端口输入，另一个光子通过第三入射端口或第四入射端口输入，且第一入射端口和第三入射端口用于接收|0态光子、第二入射端口和第四入射端口用于接收|1态光子；第一MZ干涉仪用于将接收的光子以交叉状态或直通状态输出，第一MZ干涉仪的输入上端与第一入射端口连接，其输入下端与第二入射端口连接，其输出上端与第二MZ干涉仪的输入上端连接，其输出下端与第三MZ干涉仪的输入上端连接；第二MZ干涉仪和第三MZ干涉仪均用于对经过其路径上的光子进行H门操作，使接收光子的量子态演化为：第二MZ干涉仪的输入下端与第三入射端口连接，其输出上端与第一单光子探测器连接，其输出下端与第二单光子探测器连接；第三MZ干涉仪的输入下端与第四入射端口连接，其输出上端与第三单光子探测器连接，其输出下端与第四单光子探测器连接；第一单光子探测器和第二单光子探测器用于对第二MZ干涉仪输出的光子进行探测，第三单光子探测器和第四单光子探测器用于对第三MZ干涉仪输出的光子进行探测，四个单光子探测器的输出端均与符合计数器连接，符合计数器用于对其中两个单光子探测器在一个窗口时间内均探测到光子进行计数以及记录相应单光子探测器的响应结果，同时将计数结果以及相应单光子探测器的响应结果反馈给控制芯片；三个MZ干涉仪和符合计数器均与控制芯片连接，控制芯片用于调制三个MZ干涉仪以及对符合计数器反馈的信息分析判断。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 合肥硅臻芯片技术有限公司 一种贝尔态投影测量装置及投影测量方法

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