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申请/专利权人：维申RT有限公司
摘要：本申请公开了辐射入射监测方法及系统，其中所述方法包括：将光场发射到准备进行和或正在经历辐射递送的对象的表面上，所述光场至少实质上对应于辐射递送的辐射入射；监测从所述对象的表面反射的光场；及处理监测到的光场以至少部分基于监测到的光场确定辐射递送相对于所述对象的辐射入射。
主权项：1.用于监测准备进行和或正在经历辐射递送的对象上的辐射入射的方法，所述方法包括：-将光场发射到准备进行和或正在经历辐射递送的对象的表面上，所述光场至少实质上对应于辐射递送的辐射入射；-监测从所述对象的表面反射的光场；及-处理监测到的光场以至少部分基于监测到的光场确定辐射递送相对于所述对象的辐射入射。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 维申RT有限公司 辐射入射监测方法及系统
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