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一种基于全反射倏逝场的磁场测量装置 

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申请/专利权人:北京航空航天大学

摘要:一种基于全反射倏逝场的磁场测量装置,有利于通过采用微观尺度的倏逝光场作为泵浦光和检测光作用于碱金属原子气室,从而为研制下一代芯片级磁强计提供技术支撑,其特征在于,包括具有第一折射率n1的碱金属原子气室和与其形成结合界面的具有第二折射率n2的光路介质器件,n1<n2,所述光路介质器件的入射光在所述结合界面上形成微观尺度的倏逝场,所述倏逝场作为与所述碱金属原子气室作用的泵浦光和检测光,使得所述入射光的反射光光强和偏振度均发生改变,通过差分检测装置对所述反射光进行检测,从而实现磁场测量。

主权项:1.一种基于全反射倏逝场的磁场测量装置,其特征在于,包括具有第一折射率n1的碱金属原子气室和与其形成结合界面的具有第二折射率n2的光路介质器件,n1<n2,所述光路介质器件的入射光在所述结合界面上形成微观尺度的倏逝场,所述倏逝场作为与所述碱金属原子气室作用的泵浦光和检测光,使得所述入射光的反射光光强和偏振度均发生改变,通过差分检测装置对所述反射光进行检测,从而实现磁场测量。

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