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一种RDT高低温老化全自动测试设备 

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申请/专利权人:晶太集成电路(台州)有限公司

摘要:一种RDT高低温老化全自动测试设备,包括机身、设于机身上方的检测箱以及设于检测箱前侧的箱口,箱口左侧内壁铰接有与其相匹配的密封门,所述检测箱左右两侧外壁皆设有互为对称的温控腔;所述温控腔左侧腔口设有一呈口字型的固定台阶;所述固定台阶上设有与其相匹配的防护板,防护板将温控腔左侧腔口遮蔽;所述温控腔邻近检测箱中心的腔壁上设有一上隔板、位于上隔板正下方的下隔板。本实用新型的RDT高低温老化全自动测试设备不仅能够保证调温效率,保持检测效率,且能够保证设置温度与实际温度一致,从而检测结果的精准性,同时能够使电资源得到有效利用,降低用电成本。

主权项:1.一种RDT高低温老化全自动测试设备,包括机身、设于机身上方的检测箱以及设于检测箱前侧的箱口,箱口左侧内壁铰接有与其相匹配的密封门,其特征在于:所述检测箱左右两侧外壁皆设有互为对称的温控腔;所述温控腔左侧腔口设有一呈口字型的固定台阶;所述固定台阶上设有与其相匹配的防护板,防护板将温控腔左侧腔口遮蔽;所述温控腔邻近检测箱中心的腔壁上设有一上隔板、位于上隔板正下方的下隔板;所述上隔板外端端面、下隔板外端端面皆与防护板内侧壁面相贴合;所述上隔板与下隔板将温控腔内部空间分隔为上温控室、位于上温控室正下方的中温控室、位于中温控室正下方的下温控室;所述检测箱左右两侧内壁设有若干与上温控室相贯通的上温控孔、若干与中温控室相贯通的中温控孔、若干与下温控室相贯通的下温控孔;所述检测箱下表面设有一与其内部空间相贯通的升降孔;所述机身上表面设有一与升降孔相贯通的安装槽;所述升降孔内设有与其相匹配的隔温板;所述安装槽内设有与隔温板相匹配的升降装置。

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