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申请/专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
摘要：本发明涉及固态硬盘测试领域，公开了一种NVMESSD常温下进行EnduranceRDT测试的方法、系统、设备及介质。所述方法包括：根据MI协议建立服务器的BMC与NVMESSD的通信，并且按照设定的频率依次从所述NVMESSD获取NAND温度值；计算所述BMC按照设定的频率依次获取的NAND温度值与所述NVMESSD进行EnduranceRDT测试的需求温度值的温度偏差值；设定温度偏差阈值，并且根据所述温度偏差值与所述温度偏差阈值的大小关系选择对应的温度控制器；通过所述温度控制器控制所述BMC对风扇转速进行调节，实现所述NVMESSD的NAND温度值靠近所述需求温度值。本公开的方法有利于实现NVMESSD在常温环境下进行EnduranceRDT测试，而不需要依赖温箱的环境。
主权项：1.一种NVMESSD常温下进行EnduranceRDT测试的方法，其特征在于，包括：根据MI协议建立服务器的BMC与NVMESSD的通信，并且按照设定的频率依次从所述NVMESSD获取NAND温度值；计算所述BMC按照设定的频率依次获取的NAND温度值与所述NVMESSD进行EnduranceRDT测试的需求温度值的温度偏差值；设定温度偏差阈值，并且根据所述温度偏差值与所述温度偏差阈值的大小关系选择对应的温度控制器；通过所述温度控制器控制所述BMC对风扇转速进行调节，实现所述NVMESSD的NAND温度值靠近所述需求温度值。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州浪潮智能科技有限公司 NVME SSD常温下进行Endurance RDT测试的方法、系统、设备及介质
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