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非易失性存储元件及非易失性存储装置专利

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申请/专利权人:松下电器产业株式会社

申请日:2012-10-03

公开(公告)日:2013-08-14

公开(公告)号:CN103250252A

专利技术分类:....包含场效应组件的[2023.01]

专利摘要:非易失性存储装置具备第1电极(103)、第2电极(106)和电阻变化层(104),电阻变化层(104)具备:第1氧化物层(104a),含有第1金属的氧化物;第2氧化物层(104b),在第1氧化物层(104a)和第2电极(106)之间相接配置,含有第2金属的氧化物,与第1氧化物层(104a)相比氧不足率小;及局部区域(105),在第1氧化物层(104a)及第2氧化物层(104b)内与第2电极(106)相接配置,不与第1电极(103)相接,与第2氧化物层(104b)相比氧不足率大,氧不足率与第1氧化物层(104a)不同。

专利权项:一种电阻变化型的非易失性存储元件,其中,具备第1电极、第2电极和电阻变化层,该电阻变化层介于上述第1电极和上述第2电极之间,根据在上述第1电极及上述第2电极间赋予的电压极性而可逆地使高电阻状态和低电阻状态转变;上述电阻变化层包含:第1氧化物层,含有第1金属的氧化物;第2氧化物层,在上述第1氧化物层和上述第2电极之间相接配置,含有第2金属的氧化物,与上述第1氧化物层相比氧不足率小;及局部区域,在上述第1氧化物层及上述第2氧化物层内与上述第2电极相接配置,不与上述第1电极相接,与上述第2氧化物层相比氧不足率大,氧不足率与上述第1氧化物层不同。

百度查询: 松下电器产业株式会社 非易失性存储元件及非易失性存储装置

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