恭喜赛英特半导体技术(西安)有限公司王煜获国家专利权
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龙图腾网恭喜赛英特半导体技术(西安)有限公司申请的专利一种UIS测试电路及其MOSFET雪崩能量补偿方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN110824325B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-01-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:201911104414.8,技术领域涉及:G01R31/26;该发明授权一种UIS测试电路及其MOSFET雪崩能量补偿方法是由王煜设计研发完成,并于2019-11-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种UIS测试电路及其MOSFET雪崩能量补偿方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种UIS测试电路及其MOSFET雪崩能量补偿方法,UIS测试电路包括直流电源、电感器、开关、二极管、栅极驱动模块、线路阻抗、MOSFET和电流采样模块,直流电源的正极通过开关与电感器连接,电感器经过线路阻抗连接被测MOSFET的漏极,被测MOSFET的栅极连接于栅极驱动模块,栅极驱动模块通过控制信号控制源极和漏极之间的通断,被测MOSFET的源极通过电流采样部件连接于直流电源的负极,二极管与被测MOSFET并联维持回路中的电流。本发明的一种UIS测试电路及其MOSFET雪崩能量补偿方法,能够快速准确的测试MOSFET的雪崩能量并对其进行补偿。
本发明授权一种UIS测试电路及其MOSFET雪崩能量补偿方法在权利要求书中公布了:1.一种MOSFET雪崩能量补偿方法,使用的UIS测试电路包括直流电源1、电感器2、开关3、二极管4、栅极驱动模块5、线路阻抗6、MOSFET7和电流采样模块8;所述直流电源1的正极通过开关3与电感器2连接;所述电感器2经过线路阻抗6连接被测MOSFET7的漏极;所述被测MOSFET7的栅极连接于栅极驱动模块5;所述栅极驱动模块5通过控制信号控制源极和漏极之间的通断;所述被测MOSFET7的源极通过电流采样模块8连接于直流电源1的负极;所述二极管4与被测MOSFET7并联维持回路中的电流;所述开关3的控制信号与所述栅极驱动模块5的控制信号是同时发生的;其特征在于,所述MOSFET雪崩能量补偿方法包括以下步骤:S101:进行MOSFET雪崩能量的UIS预测试,设定电感L和电流I,根据能量公式计算得到加载能量为;S102:获得电流采样模块8的电流值和被测量的MOSFET7两端的电压值Vds,根据能量公式计算得到MOSFET7实际消耗能量值为,故线路阻抗6和二极管4消耗的能量为;S103:由于线路阻抗6和二极管4均为纯阻性元件,因此根据公式计算得到线路阻抗6消耗的能量为,二极管4消耗的能量为,即;S104:将根据上述公式及联立式可以求出线路阻抗(6)的数值并带入能量公式中得出补偿能量值比例为;S105:据在MOSFET雪崩能量测试方法中得出MOSFET(7)的雪崩能量为,L为电感器(2)的电感量,Vds为被测试的MOSFET两端的电压值,Vd为二极管两端的电压值,I为电流采样模块8的电流值,R为线路阻抗(6)的电阻值,由此计算出所述MOSFET(7)准确的雪崩能量。
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