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龙图腾网恭喜象帝先计算技术(重庆)有限公司申请的专利芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117007933B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210466608.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质是由王宇设计研发完成，并于2022-04-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质。其中，芯片测试方法包括：获得被测芯片的原始测试向量文件，原始测试向量文件包括JTAG接口的时序波形数据和functionclock接口的时序波形数据；对JTAG接口的每个时序波形数据进行修改，使得每个时序波形数据对应的波形的持续时间延长为原始持续时间的N倍，从而获得变换后的测试向量文件；原始持续时间等于functionclock接口的最高有效频率所对应的周期，N等于functionclock接口的最高有效频率与JTAG接口的最高有效频率的比值；利用变换后的测试向量文件对被测芯片进行测试。本公开中，通过将JTAG接口的时序波形数据的持续时间延长为原始持续时间的N倍，使得在芯片测试的FunctionSetup阶段，function的测试频率实现最大化。

本发明授权芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试方法，包括：获得被测芯片的原始测试向量文件，所述原始测试向量文件包括JTAG接口的时序波形数据和functionclock接口的时序波形数据；对所述JTAG接口的每个时序波形数据进行修改，使得所述JTAG接口的每个时序波形数据对应的波形的持续时间延长为原始持续时间的N倍，从而获得变换后的测试向量文件；所述原始持续时间等于所述functionclock接口的最高有效频率所对应的周期，所述N等于所述functionclock接口的最高有效频率与所述JTAG接口的最高有效频率的比值；利用所述变换后的测试向量文件对所述被测芯片进行测试；所述原始测试向量文件包括多行测试向量和多行备注；所述方法还包括：对所述原始测试向量文件的备注进行遍历，判断遍历到的每行备注中是否包括预设起始位置；所述预设起始位置用于表征：所述JTAG接口的时序波形数据在所述原始测试向量文件中的起点；所述对所述JTAG接口的每个时序波形数据进行修改，包括：在确定出包括所述预设起始位置的备注后，将该备注的下一行作为起点，对所述原始测试向量文件的剩余行进行遍历，针对遍历到的每行测试向量，对每行测试向量中JTAG接口的时序波形数据进行修改，直至遍历到包含预设结束位置的备注；所述预设结束位置用于表征：所述JTAG接口的时序波形数据在所述原始测试向量文件中的终点；所述JTAG接口的时序波形数据包括TCK引脚的时序波形数据，所述TCK引脚的时序波形为脉冲波形；所述针对遍历到的每行测试向量，对每行测试向量中JTAG接口的时序波形数据进行修改，包括：针对遍历到的每行测试向量，将每行测试向量变换成N行测试向量；所述N行测试向量的前N2行测试向量中，每行测试向量中TCK引脚的时序波形数据为0，所述N行测试向量的后N2行测试向量中，每行测试向量中TCK引脚的时序波形数据为1；或者，所述N行测试向量的前N2行测试向量中，每行测试向量中TCK引脚的时序波形数据为1，所述N行测试向量的后N2行测试向量中，每行测试向量中TCK引脚的时序波形数据为0。

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