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龙图腾网恭喜辽宁荣信电力电子技术有限公司申请的专利一种IGBT模块温度采样检测系统及误差优化方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113253084B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110463177.5，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种IGBT模块温度采样检测系统及误差优化方法是由高金鑫;赵爽;吴然;陈鹏;孙贤大;王继浩设计研发完成，并于2021-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种IGBT模块温度采样检测系统及误差优化方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种IGBT模块温度采样检测系统及误差优化方法，检测系统包括NTC采样电路、光耦隔离和FPGA。NTC采样电路包括由上至下串联的NTC电阻R1、电阻R2、电容C1，还包括555芯片，NTC电阻R1为IGBT模块内部的温度采样电阻，NTC电阻R1和电阻R2串联的中间点连接至555芯片的模拟信号输入端，电阻R2与电容C1串联的中间点连接至555芯片的充放电路的触发端，555芯片的输出端为NTC采样电路的输出端，连接光耦隔离的输入端，光耦隔离的输出端连接至FPGA芯片的输入。通过FPGA高速运行的特点，利用放电时电容值得误差比较算法，运用新的周期运算时间就可以的非常准确的IGBT温度，进而控制SVG设备的散热系统，保证SVG设备的可靠运行，能够提高IGBT模块的温度检测的精度。

本发明授权一种IGBT模块温度采样检测系统及误差优化方法在权利要求书中公布了：1.一种IGBT模块温度采样检测系统的检测误差优化方法，其特征在于，所述系统包括NTC采样电路、光耦隔离和FPGA；所述的NTC采样电路包括由上至下串联的NTC电阻R1、电阻R2、电容C1，还包括555芯片，NTC电阻R1为IGBT模块内部的温度采样电阻，NTC电阻R1的上端连接电源VCC，电容C1的下端接地，NTC电阻R1和电阻R2串联的中间点连接至555芯片的模拟信号输入端，电阻R2与电容C1串联的中间点连接至555芯片的充放电路的触发端，555芯片的输出端为NTC采样电路的输出端，连接光耦隔离的输入端，光耦隔离的输出端连接至FPGA芯片的输入；所述检测误差优化方法包括如下：步骤一、初始计算：在由NTC电阻R1，电阻R2，电容C1构成多谐振荡器的充放电电路中，设电容C1的充放电时间分别为TH和TL，由RC电路对阶跃激励的全响应方程为：uct＝V0etτ+E1-etτ1其中：E＝VCC，τ＝R1+R2C1，将上式整理得： 对等式两边同时取以e为底的自然对数，得到充电时间为：TH＝R1+R2C1*Ln23同理，得到放电时间为：TL＝R2C1Ln24将充电时间和放电时间合在一起，得到振荡周期T和频率f分别为：T＝TH+TL＝R1+2R2C1*Ln25f＝1R1+2R2C1*Ln26在公式3中，R1作为NTC的采样电阻，R2，C1作为常量，因此，通过不同的NTC电阻R1和周期T中充放电时间的关系，得到NTC电阻R1的值，从而得出IGBT的温度值；步骤二、检测误差优化1在FPGA中，检测FPGA的采样输入端口的脉冲长度，得出实时的新的放电时间和周期TLnew和Tnew；2由新的放电时间TLnew通过公式4计算出新的电容值C1new；3通过FPGA的算法公式7得到优化后的振荡周期Tnew1，abs为绝对值函数； 4公式7计算出的振荡周期Tnew1通过公式5进一步计算出对应优化后的NTC电阻R1new，进而得到优化后的IGBT的温度。

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