恭喜同方威视技术股份有限公司;清华大学陈志强获国家专利权
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龙图腾网恭喜同方威视技术股份有限公司;清华大学申请的专利物品的检测方法、装置、安检设备、介质和程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114609684B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011432043.9，技术领域涉及：G01V5/00；该发明授权物品的检测方法、装置、安检设备、介质和程序产品是由陈志强;张丽;孙运达;金鑫;许晓飞;黄清萍;沈乐;常铭设计研发完成，并于2020-12-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本物品的检测方法、装置、安检设备、介质和程序产品在说明书摘要公布了：本公开提供了一种物品的检测方法，应用于安检设备，安检设备包括光源、探测器和安检通道。该方法包括：确定焦点偏移量；根据焦点偏移量，改变光源的焦点位置，以使光源根据改变后的焦点位置向被扫描物体发射第一X射线，其中，焦点偏移量根据被扫描物体的位置来确定；利用探测器接收由光源发射的第一X射线，以得到第一X射线的探测数据；以及根据第一X射线的探测数据，对被扫描物体进行检测。本公开还提供了一种物品的检测装置、安检设备、介质和程序产品。
本发明授权物品的检测方法、装置、安检设备、介质和程序产品在权利要求书中公布了：1.一种物品的检测方法，应用于安检设备，所述安检设备包括光源、探测器和安检通道；所述方法包括：确定至少一个参考点的坐标，其中，所述参考点的坐标为所确定的被扫描物体的中心坐标；根据所述至少一个参考点的坐标、所述光源的位置以及所述光源经过参考点的射线所穿过的探测器的坐标，确定所述被扫描物体的放大比，得到焦点偏移量；根据所述焦点偏移量，改变所述光源的焦点位置，以使所述光源根据改变后的焦点位置向所述被扫描物体发射第一X射线，其中，所述焦点偏移量根据所述被扫描物体的位置来确定；利用所述探测器接收由所述光源发射的第一X射线，以得到所述第一X射线的探测数据；以及根据所述第一X射线的探测数据，对所述被扫描物体进行检测。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人同方威视技术股份有限公司;清华大学，其通讯地址为：100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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