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龙图腾网恭喜杭州长川科技股份有限公司申请的专利时间特征测试方法、装置、系统、计算机设备和程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119355500B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411930632.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权时间特征测试方法、装置、系统、计算机设备和程序产品是由魏鑫;赵勇;董超;唐龙设计研发完成，并于2024-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本时间特征测试方法、装置、系统、计算机设备和程序产品在说明书摘要公布了：本申请涉及一种时间特征测试方法、装置、计算机设备和计算机程序产品。方法包括：接收测试指令，测试指令携带有测试模式信息以及测试信息，每一测试模式对应一种时间特征；将测试信息发送至FPGA，FPGA用于基于测试信息对待测芯片进行测试，并存储测试得到的原始测试数据；基于测试模式信息从FPGA中读取原始测试数据，并本地存储原始测试数据；基于测试模式信息生成各独立的时间特征计算线程，每一时间特征计算线程用于计算一测试模式对应的时间特征；通过每一时间特征计算线程基于原始测试数据计算得到时间特征计算线程对应的时间特征。采用本方法能够提高测试效率。

本发明授权时间特征测试方法、装置、系统、计算机设备和程序产品在权利要求书中公布了：1.一种时间特征测试方法，其特征在于，所述方法包括：接收测试指令，所述测试指令携带有测试模式信息以及测试信息，每一测试模式对应一种时间特征，所述时间特征包括周期、频率、高低电平时间、上升沿下降沿时间、延时、抖动中的至少一个；将所述测试信息发送至FPGA，所述FPGA用于基于所述测试信息对待测芯片进行测试，并存储测试得到的原始测试数据，所述测试信息包括起始测试位置和采样点数，其中所述FPGA将采集到的时间信息进行拆分得到原始测试数据，再将拆分得到的原始测试数据进行分布式存储，存储到FPGA的存储空间管理模块管理的各块存储空间中，原始测试数据的分类大于等于测试模式的种类；基于所述测试模式信息从所述FPGA中读取原始测试数据，并本地存储所述原始测试数据；基于所述测试模式信息生成各独立的时间特征计算线程，每一所述时间特征计算线程用于计算一所述测试模式对应的时间特征；通过每一所述时间特征计算线程基于所述原始测试数据计算得到所述时间特征计算线程对应的时间特征。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人杭州长川科技股份有限公司，其通讯地址为：310056 浙江省杭州市滨江区聚才路410号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。