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龙图腾网恭喜阿贝锐纳仪器有限公司申请的专利在多个空间方向高分辨率定位单个染料分子的方法和设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116745678B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202280010063.8，技术领域涉及：G02B21/00；该发明授权在多个空间方向高分辨率定位单个染料分子的方法和设备是由R·施密特设计研发完成，并于2022-01-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本在多个空间方向高分辨率定位单个染料分子的方法和设备在说明书摘要公布了：本发明涉及MINFLUX纳米显微术。本发明改进了孤立荧光团的三维定位。根据MINFLUX原理，使用3D激发圆环8将定位分为一系列单独的步骤，来改进利用孤立的可激发荧光团4的荧光光子来进行三维定位，其中在一个步骤中确定荧光团的轴向位置或侧向位置。在此，对轴向位置更精确的了解会提高后续侧向定位的质量，反之亦然。三维定位通过以下方法进一步改进：该方法通过用3D激发圆环8扫描轴向扫描范围并优选地通过形成矢量和对测量的强度或光子数进行后续评估来进行轴向定位。

本发明授权在多个空间方向高分辨率定位单个染料分子的方法和设备在权利要求书中公布了：1.一种通过用具有中心局部最小值46的3D激发圆环8扫描可激发荧光团4以高分辨率地确定所述可激发荧光团4在样本中三个空间方向上的位置的方法，其中，在轴向定位步骤中，将所述中心局部最小值46按顺序放置在穿过所述可激发荧光团4的估计位置16延伸的扫描模式轴线28上的两个轴向样本位置15、15’处，其中，这一对轴向样本位置15、15’包围所述可激发荧光团4的估计位置16，其中，在所述轴向定位步骤中，针对所述轴向样本位置15、15’中的每个轴向样本位置测量由所述可激发荧光团4发射的荧光，并将测量值分配给相应的所述轴向样本位置15、15’，其中，在所述轴向定位步骤中，根据分配给所述轴向样本位置15、15’的所述测量值来确定所述可激发荧光团4的轴向位置的新估计，其特征在于，在侧向定位步骤中，仅在垂直于所述扫描模式轴线28定向的扫描模式平面29中，将所述中心局部最小值46按顺序放置于在一个或更多个先前执行的步骤中估计的所述可激发荧光团4的位置16周围布置的至少三个侧向样本位置31处，其中，在所述侧向定位步骤中，针对所述侧向样本位置31中的每个侧向样本位置测量由所述可激发荧光团4发射的荧光，并将测量值分配给相应的侧向样本位置31，其中，在所述侧向定位步骤中，根据分配给所述侧向样本位置31的所述测量值来确定所述可激发荧光团4的侧向位置的新估计。

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