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恭喜中国科学院自动化研究所陶显获国家专利权

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龙图腾网恭喜中国科学院自动化研究所申请的专利一种面向工业场景的缺陷检测方法及相关装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119048492B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-14发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411507027.X,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权一种面向工业场景的缺陷检测方法及相关装置是由陶显;曲世辰;屈震设计研发完成,并于2024-10-28向国家知识产权局提交的专利申请。

一种面向工业场景的缺陷检测方法及相关装置在说明书摘要公布了:本申请针对目前基于重建的缺陷检测方法中,缺陷检测网络容易过检和漏检的技术问题,提供一种面向工业场景的缺陷检测方法及相关装置,从待识别图像中提取高语义特征和低语义特征,并对两组关键特征进行适配后,将适配特征输入至缺陷检测模型,得到缺陷检测结果,其中,缺陷检测模型包括交叉特征重建网络和缺陷判别网络,交叉特征重建网络用于将存在缺陷的适配高语义特征和适配低语义特征分别进行交叉重建,得到非缺陷的配高语义特征和适配低语义特征,并计算得到缺陷位置信息,缺陷判别网络用于以缺陷位置信息作为输入,对输入的特征中的每一个像素点进行缺陷评分,输出精确的缺陷检测结果,能够降低产品缺陷检测过程中的漏检率和或过检率。

本发明授权一种面向工业场景的缺陷检测方法及相关装置在权利要求书中公布了:1.一种面向工业场景的缺陷检测方法,其特征在于,包括:获取待识别图像;对待识别图像逐层提取特征,分别获取高语义特征和低语义特征作为两组关键特征;分别对所述高语义特征和所述低语义特征进行适配,得到适配后的高语义特征和适配后的低语义特征,分别记作适配高语义特征和适配低语义特征;将所述适配高语义特征和适配低语义特征输入至缺陷检测模型,得到缺陷检测结果;所述缺陷检测模型包括交叉特征重建网络和缺陷判别网络;所述交叉特征重建网络,用于将存在缺陷的适配高语义特征修复和重建为非缺陷的低语义适配特征,得到重建低语义适配特征,并将存在缺陷的适配低语义特征修复和重建为非缺陷的高语义适配特征,得到重建高语义适配特征;融合高语义缺陷位置信息和低语义缺陷位置信息,得到融合缺陷位置信息;其中,所述高语义缺陷位置信息为存在缺陷的适配高语义特征与重建高语义适配特征之间的欧式距离,所述低语义缺陷位置信息为存在缺陷的适配低语义特征与重建低语义适配特征之间的欧式距离;所述缺陷判别网络,用于以所述融合缺陷位置信息作为输入,对融合缺陷位置信息中的每一个像素点进行缺陷评分,输出缺陷检测结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院自动化研究所,其通讯地址为:100086 北京市海淀区中关村东路95号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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