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龙图腾网恭喜西安奥华电子仪器股份有限公司申请的专利一种用于测井图的裂缝轮廓提取方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119418066B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510019508.4，技术领域涉及：G06V10/44；该发明授权一种用于测井图的裂缝轮廓提取方法是由孙辉;白磊磊;侯宇明;肖江涛;徐瑞琪;杨少杰设计研发完成，并于2025-01-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于测井图的裂缝轮廓提取方法在说明书摘要公布了：本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种用于测井图的裂缝轮廓提取方法，该方法包括获取测井图，并根据测井图中像素点的灰度值和位置特征得到像素点的空间参量，根据像素点的空间参量和其周围像素点得到像素点的环境表现值，根据像素点的环境表现值和像素点的坐标间距得到像素点的裂缝特征值，根据裂缝特征值的大小进行分类，以区分出测井图的裂缝位置。根据本发明的方案，实现对裂缝位置的定位，使得裂缝的边缘更加明确，实现了对裂缝轮廓的准确监测，有效提升了勘探技术。

本发明授权一种用于测井图的裂缝轮廓提取方法在权利要求书中公布了：1.一种用于测井图的裂缝轮廓提取方法，其特征在于，包括：获取测井图，并根据测井图中像素点的灰度值和位置特征得到像素点的空间参量，所述空间参量与像素点的灰度值和位置特征呈正相关；根据像素点的空间参量和其周围像素点得到像素点的环境表现值，其中环境表现值的计算公式为：其中，Qi表示像素点i的环境表现值，Bi表示像素点i的空间参量，Bij表示像素点i对应的范围内的数据j的空间参量，Eij表示像素点i对应在三维坐标系数据空间中的数据i与其范围内的数据j的距离，Gij表示两数据点连线斜率，Fi表示像素点i对应在三维坐标系数据空间中的数据i的个数，norm表示归一化函数，n表示像素点i对应范围内的数据j的个数；根据像素点的环境表现值和像素点的坐标间距得到像素点的裂缝特征值，其中所述裂缝特征值与环境表现值的均值偏差呈负相关，与坐标间距的最大值呈正相关；根据裂缝特征值的大小进行分类，以区分出测井图的裂缝位置；像素点的空间参量的计算公式为： 其中，Hi表示像素点的灰度值，Xi表示像素点i的横坐标值，Yi表示像素点i的纵坐标值；根据像素点的空间参量和其周围像素点得到像素点的环境表现值，包括：构建像素点对应的三维坐标系数据空间；在三维坐标系数据空间内，选取图像的自定义窗口内像素点对应的最远的数据点的间距作为半径，获取其球形范围内的数据点；根据像素点及对应球形范围内的数据点之间的距离，计算对应像素点的环境表现值；根据像素点的环境表现值和像素点的坐标间距得到像素点的裂缝特征值，包括：将环境表现值差距小于设定值且相连的像素点记为像素点对应的相连近似像素点；确定像素点及其相连近似像素点之间的横坐标间距和纵坐标间距，并确定横坐标间距和纵坐标间距中的最大值；确定环境表现值和环境表现值均值之间的均值偏差，并根据所述最大值和均值偏差的比值计算裂缝特征值；其中裂缝特征值的计算公式为： 其中，Ai表示像素点的裂缝特征值，Cil表示像素点i和第l个相连近似像素点的横坐标间距，Dil表示像素点i和第l个相连近似像素点的纵坐标间距，max表示最大值，表示环境表现值均值，m表示像素点i对应的相连近似像素点的个数；根据裂缝特征值的大小进行分类，以区分出测井图的裂缝位置，包括：将裂缝特征值从大到小进行排列，并将其中第一个最大间隔位置作为定位分类线，其中裂缝特征值较大的一边的像素点为裂缝像素点，裂缝特征值较小的一边的像素点为非裂缝像素点；确定所有裂缝区域的像素点，以得到裂缝轮廓。

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