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摘要：一种用于集成电路测试设备的电触头，电触头具有细长导电接触引脚，细长导电接触引脚具有在接触引脚的内端处向上的接触尖端以及允许接触引脚在测试期间从一侧到另一侧摆动和滑动的弯曲底表面。一种具有“P”形横截面的细长可压缩构件，包括：“垂直部分”，其是所谓的字母“P”形状的上部弯曲部分，适于紧密配合在接触引脚顶部上的向上凹陷部内；以及“水平部分”，其是所谓的字母“P”形的主干或垂直线，定位在所述接触引脚的下顶表面和插座顶盖之间并与其接触。
主权项：1.一种用于集成电路测试设备的电触头，其特征在于，电触头包括：带插座顶盖32的插座外壳30；成排布置的多个接触引脚10，每个接触引脚包括弯曲的底表面12、与向上的凹陷部15相邻的下顶表面14、上顶表面16和接触尖端18；由垂直部分22和水平部分24形成的细长可压缩构件20，垂直部分22设计成使得每个向上的凹陷部15紧密配合在其周围，并且水平部分24的底表面242与下顶表面14齐平接触，并且水平部分的顶表面244与插座顶盖32的一部分接触；所述可压缩构件20具有顺时针旋转90°的字母“P”形状横截面，垂直部分22和水平部分24彼此相交处的可压缩构件20的内边缘25形成为弯曲部，并且接触引脚10还包括上顶表面16和向上的凹陷部15彼此相交处的钩17，使得钩17适于至少部分地抓在内边缘25上，从而防止接触引脚10向下掉落。
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百度查询： 杰冯科技有限公司 用于集成电路测试设备的电触头及集成电路测试设备
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