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摘要：本申请实施例提供了一种硬盘的测试方法、装置、存储介质以及电子设备，应用于目标存储控制器，该方法包括：根据预先配置的硬盘测试时间表，确定每组目标硬盘的测试时间；在确定存储控制器的第一数量满足第一条件的情况下，通过第一方式确定存储设备中包括的各个目标硬盘的测试顺序；同时执行利用第二数量个存储控制器分别对应测试各个第一组硬盘，以及利用余下的目标差值个存储控制器按照其余组硬盘的测试顺序测试目标差值个其余组硬盘，并且，在多个存储控制中的任一存储控制器执行完当前测试的情况下，根据其余组硬盘的测试顺序确定出下一个待测试的目标硬盘并进行测试。

主权项：1.一种硬盘的测试方法，其特征在于，应用于目标存储控制器，其中，所述目标存储控制器为存储主柜中包括的多个存储控制器中的任一个存储控制器，所述存储主柜包括在存储设备中，所述存储设备中还包括扩展柜，所述存储主柜以及所述扩展柜通过存储交换机连接，所述存储主柜以及所述扩展柜中均包括有待测试硬盘，所述方法包括：根据预先配置的硬盘测试时间表，确定每组目标硬盘的测试时间，其中，所述存储设备中包括多类待测试硬盘，且每类待测试硬盘中包括有一组或多组所述目标硬盘；在确定所述存储控制器的第一数量满足第一条件的情况下，通过第一方式确定所述存储设备中包括的各个所述目标硬盘的测试顺序，其中，所述第一条件为各组所述目标硬盘的测试时间之和与所述第一数量的比值大于预定测试时间，所述第一数量大于第二数量，所述第二数量为所述存储设备中包括的待测试硬盘的类别数，以及，所述第一数量小于第三数量，所述第三数量为所述存储设备中包括的所述目标硬盘的组别数，所述第一方式包括：按照每类待测试硬盘中包括的所述目标硬盘的组别数以及硬盘性能分别确定每类待测试硬盘中包括的第一组硬盘；按照所述存储设备中包括的除所述第一组硬盘外的其余组硬盘的测试时间由短到长的顺序以及目标差值确定所述其余组硬盘的测试顺序，其中，所述目标差值为所述第一数量与所述存储设备中包括的待测试硬盘的类别数的差值；同时执行利用所述第二数量个所述存储控制器分别对应测试各个所述第一组硬盘，以及利用余下的所述目标差值个所述存储控制器按照所述其余组硬盘的测试顺序测试所述目标差值个所述其余组硬盘，并且，在多个所述存储控制中的任一存储控制器执行完当前测试的情况下，根据所述其余组硬盘的测试顺序确定出下一个待测试的所述目标硬盘并进行测试。

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百度查询： 苏州元脑智能科技有限公司 硬盘的测试方法、装置、存储介质以及电子设备