Document
拖动滑块完成拼图
首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 国际服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

高通量X射线多能谱探测系统和探测方法 

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

摘要:本申请涉及X射线探测技术领域,具体涉及一种高通量X射线多能谱探测系统和探测方法,探测方法包括制备n种K吸收限不同的滤波片Zi,i∈1,n,n≥15;入射X射线准直后经过每一滤波片Zi衰减后均被探测得到电信号Si,Si=∫η×[φE×CiE]dE,Emin,Emax;对电信号Si做离散化处理而后求解最小二乘解,得到入射X射线能谱。本申请基于能量积分的探测原理,通过不同线性衰减系数的滤波片的数学组合,实现对于高通量X射线能谱的灵活调制与解调,兼顾探测成本同时得到精细分辨率的X射线能谱。

主权项:1.高通量X射线多能谱探测方法,其特征在于,包括以下步骤:制备n种K吸收限不同的滤波片Zi,i∈1,n,n≥15;入射X射线准直后经过每一滤波片Zi衰减;衰减后均被探测得到电信号Si,Emin,Emax,式中,η为比例系数,为入射X射线的能谱,Emin,Emax为入射X射线的能量范围,CiE=E×e-μiEdi,其中,E为入射X射线的能量,μiE为滤波片Zi的衰减系数,di为滤波片Zi的厚度;在Emin,Emax能量范围内,n种滤波片基于K吸收限将该能量范围划分为m个能量窗Wj,j∈1,m;滤波片Zi在每个能量窗Wj内的CiE记为Cij,在每个能量窗内记为对电信号Si做离散化处理得基于式求解最小二乘解,得到入射X射线的能谱基于入射X射线的分能谱得入射X射线能谱。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 华中科技大学 高通量X射线多能谱探测系统和探测方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。