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申请/专利权人：深圳市欣冠精密技术有限公司
摘要：本申请涉及光学玻璃厚度测量技术领域，具体涉及一种光学玻璃厚度快速测量方法及系统，该方法包括：获取光束图像；使用边缘检测算法获取两个光束连通域的边缘，使用边缘细化算法获取两个光束连通域的边缘骨架；进而获取各光束图像的光线偏移值；计算各光束图像的畸变影响系数；进而获取各光束图像的畸变偏移因子，对光学玻璃厚度进行测量。本申请提高了对光学玻璃等曲面光学玻璃厚度测量的准确性。
主权项：1.一种光学玻璃厚度快速测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取各采集时刻的光学玻璃的光束图像；使用边缘检测算法获取两个光束连通域的边缘，使用边缘细化算法获取两个光束连通域的边缘骨架；基于光束图像中的各光束连通域的边缘骨架之间的形状与长度的差异，获取各光束图像的光线偏移值；基于光束图像与前后相邻采集时刻的光束图像之间的结构相似性、以及边缘骨架之间的相似性，获取各光束图像的畸变影响系数；基于光线偏移值和畸变影响系数获取各光束图像的畸变偏移因子；基于畸变偏移因子对光学玻璃厚度进行测量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市欣冠精密技术有限公司 一种光学玻璃厚度快速测量方法及系统
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