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申请/专利权人：上海合芯数字科技有限公司;合芯科技有限公司

摘要：本发明涉及数据存储技术领域，公开了备用校验纠错方法、装置、服务器及存储介质，包括：在闪存中设置固件数据与第一纠错数据；对待测纠错内存进行纠错测试；在待测纠错内存未通过纠错测试时，基于固件数据，生成固件数据对应的第二纠错数据；将第二纠错数据与第一纠错数据进行对比，判断第二纠错数据与第一纠错数据是否存在差异；在第二纠错数据与第一纠错数据不存在差异时，确认固件数据通过纠错校验，将固件数据搬运至存储器，本发明在eccengine无法正常进行ecc校验的情况下，通过备用的ecc校验过程，保障了固件数据的可靠性与有效性，进一步保证了服务器的安全启动，提升了服务器的可靠性及稳定性。

主权项：1.一种备用校验纠错方法，其特征在于，所述方法包括：在闪存中设置固件数据与第一纠错数据；对待测纠错内存进行纠错测试；在所述待测纠错内存未通过纠错测试时，基于所述固件数据，生成所述固件数据对应的第二纠错数据，包括：将所述固件数据转化为二进制的固件数据；对所述二进制的固件数据进行异或操作，生成所述固件数据对应的第二纠错数据，所述第二纠错数据的生成过程包括：采用软件方法从固件数据区域顺序读取所述固件数据，将所述固件数据转为所述二进制的固件数据，输入32bit位的所述二进制的固件数据；抽取所述二进制的固件数据中的bit0，1，2，3，4，5，6，7，14，19，22，24，30，31，进行异或计算，并将结果保存到bit0；抽取所述二进制的固件数据中的bit4，7，8，9，10，11，12，13，14，15，18，21，24，29，进行异或计算，并将结果保存到bit1；抽取所述二进制的固件数据中的bit3，11，16，17，18，19，20，21，22，23，26，27，29，30，进行异或计算，并将结果保存到bit2；抽取所述二进制的固件数据中的bit2，6，10，13，15，16，24，25，26，27，28，29，30，31，进行异或计算，并将结果保存到bit3；抽取所述二进制的固件数据中的bit1，2，5，7，9，12，15，20，21，22，23，25，26，28，进行异或计算，并将结果保存到bit4；抽取所述二进制的固件数据中的bit0，5，6，8，12，13，14，16，17，18，19，20，28，进行异或计算，并将结果保存到bit5；抽取所述二进制的固件数据中的bit0，1，3，4，8，9，10，11，17，23，25，27，31，进行异或计算，并将结果保存到bit6；得到data1=bit3bit2bit1bit0，data0=0bit6bit5bit4；将data0和data1以如下方式进行拼接：eccdata=data04|data1，得到所述第二纠错数据；将所述第二纠错数据与所述第一纠错数据进行对比，判断所述第二纠错数据与所述第一纠错数据是否存在差异；在所述第二纠错数据与所述第一纠错数据不存在差异时，确认所述固件数据通过纠错校验，将所述固件数据搬运至存储器。

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